首页> 外文期刊>Applied Physics Letters >Alternating current flow in internally flawed conductors: A tomographic analysis
【24h】

Alternating current flow in internally flawed conductors: A tomographic analysis

机译:内部缺陷导体中的交流电:层析成像分析

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
       

摘要

The alternating current potential drop technique is a nondestructive testing method that is mostly applied to estimate the depth of surface breaking flaws (e.g., cracks) in metallic conductors. When the flaw is hidden (internal or bottom cracks), other techniques (e.g., radiographic) must be used, which may only provide limited information on the location and dimensions of the hidden flaw. This work presents a detailed numerical analysis of ac flow in internally flawed conductors. The results can be used to reveal and estimate the dimensions and location of hidden flaws.
机译:交流电势下降技术是一种非破坏性的测试方法,主要用于估算金属导体中表面破裂缺陷(例如裂纹)的深度。当缺陷被隐藏(内部或底部裂纹)时,必须使用其他技术(例如射线照相),这些技术可能仅提供有关隐藏缺陷的位置和尺寸的有限信息。这项工作提出了内部缺陷导体中交流电的详细数值分析。结果可用于揭示和估计隐藏缺陷的尺寸和位置。

著录项

  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2006年第9期|p.094102.1-094102.3|共3页
  • 作者

    H. Saguy; D. Rittel;

  • 作者单位

    Faculty of Mechanical Engineering, Technion, 32000 Haifa, Israel;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 应用物理学;计量学;
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-18 03:22:06

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号