机译:基于数值和实验研究的粘弹性声子晶体的带隙结构
Tongji Univ, Minist Educ, Key Lab Rd & Traff Engn, Shanghai 200092, Peoples R China;
Tongji Univ, Minist Educ, Key Lab Rd & Traff Engn, Shanghai 200092, Peoples R China;
Tongji Univ, Minist Educ, Key Lab Rd & Traff Engn, Shanghai 200092, Peoples R China;
Phononic crystal; Viscoelasticity; Band gaps; Defect modes; Boundary element method;
机译:基于广义粘弹性造型的二维声晶体带隙性能研究
机译:通过流固耦合降低声子晶体束带隙的实验和理论研究
机译:具有超晶胞结构的声子晶体的带隙和实验研究
机译:三维声子晶体中完整声带隙的实验和数值分析
机译:声子晶体的带隙工程和声子准晶体的能隙结构研究。
机译:二维多散射声子晶体结构的带隙和传输特性分析
机译:通过流固耦合降低声子晶体束带隙的实验与理论研究