...
首页> 外文期刊>Advances in space research >An improved empirical formulation of an ionosphere bottomside electron density profile thickness parameter
【24h】

An improved empirical formulation of an ionosphere bottomside electron density profile thickness parameter

机译:电离层底侧电子密度分布厚度参数的改进经验公式

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

An improved empirical formulation for the characterization of the “base point” of the bottomside ionospheric electron density profile is proposed. The “base point” in an ionospheric layer is defined by the electron density profile height where the gradient dN/dh reaches a maximum. The difference between the height of the maximum electron density and the height of the “base point” is proportional to the ionospheric F2 layer thickness parameter B2. The previous empirical formula links the maximum value of dN/dh to foF2 and M(3000)F2 scaled from the ionograms. The new formulation adds a dependence on the solar zenith angle. The use of the new equation improves substantially the calculation of the B2 thickness parameter used in the NeQuick model.
机译:提出了一种改进的经验公式,用于表征底侧电离层电子密度分布图的“基点”。电离层的“基点”由梯度dN / dh达到最大值的电子密度分布高度定义。最大电子密度的高度与“基点”的高度之间的差与电离层F2层厚度参数B2成正比。先前的经验公式将dN / dh的最大值与从电离图缩放的foF2和M(3000)F2关联起来。新的公式增加了对太阳天顶角的依赖性。新方程的使用大大改善了NeQuick模型中使用的B2厚度参数的计算。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号