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机译:<内联公式ID =“IEQ1”> <替代方案>
机译:在
机译:<内联公式ID =“IEQ1”> <替代方案>
机译:在{公式}}} {公式}} = 7 tev之间的D介子和任何带电粒子之间的方位角相关性的测量
机译:使用衰减到J / psi加轻子+ X衰减的魅力B(+/-)介子测量魅力B(+/-)介子寿命。
机译:研究... ...和...介子包括观察...处质子-质子碰撞中...的衰变。 。
机译:使用D(S)和PHI介素的LEB时B(S)0介素的生产率和衰减寿命测量
机译:海星电子衰变寿命的通式