首页> 美国卫生研究院文献>Sensors (Basel Switzerland) >Bit Error Rate Closed-Form Expressions for LoRa Systems under Nakagami and Rice Fading Channels
【2h】

Bit Error Rate Closed-Form Expressions for LoRa Systems under Nakagami and Rice Fading Channels

机译:Nakagami和Rice衰落信道下LoRa系统的误码率闭式表达式

代理获取
本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务,本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文,但由于OA文献来源多样且变更频繁,仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况,如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

摘要

We derive exact closed-form expressions for Long Range (LoRa) bit error probability and diversity order for channels subject to Nakagami- , Rayleigh and Rician fading. Analytical expressions are compared with numerical results, showing the accuracy of our proposed exact expressions. In the limiting case of the Nakagami and Rice parameters, our bit error probability expressions specialize into the non-fading case.
机译:我们推导了受Nakagami-,Rayleigh和Rician衰落影响的信道的远距离(LoRa)误码概率和分集阶数的精确封闭式表达式。分析表达式与数值结果进行了比较,表明了我们提出的精确表达式的准确性。在Nakagami和Rice参数的极限情况下,我们的误码概率表达式专门用于非衰落情况。

著录项

代理获取

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号