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【2h】

The Polarization Properties of the Reflection Spectra of Single-Layer MoS2 and ReS2 on SiO2/Si and Quartz Substrates

机译：SiO2 / Si和石英衬底上单层MoS2和ReS2的反射光谱的偏振特性

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The polarization optical contrast curves of SL MoS flakes supported on SiO /Si substrate. The intensity variation at ~ 611 nm from 0 to 360°. The intensity variation at ~ 658 nm from 0 to 360°

机译：SiO / Si衬底上负载的SL MoS薄片的偏振光学对比度曲线。强度从0到360°在〜611 nm处变化。从0到360°在〜658 nm处的强度变化

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期刊名称 Nanoscale Research Letters
作者
Yafang Shi; Longlong Wang; Xiaofen Qiao; Shuai Li; Yi Liu; Xiaoli Li; Xiaohui Zhao;
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作者单位

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年(卷),期 2020(15),-1
年度 2020
页码 -1
总页数 6
原文格式 PDF
正文语种
中图分类生化遗传学;生化药理学;
关键词
MoS;

机译：钼;

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