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Semiparametric Accelerated Failure Time Model for Length-biased Data with Application to Dementia Study

机译:长度偏向数据的半参数加速故障时间模型及其在痴呆研究中的应用

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摘要

A semiparametric accelerated failure time (AFT) model is proposed to evaluate the effects of risk factors on the unbiased failure times for the target population given the observed length-biased data. The analysis of length-biased data is complicated by informative right censoring due to the biased sampling mechanism, and consequently the techniques for conventional survival analysis are not applicable. We propose estimating equation methods for estimation and show the asymptotic properties of the proposed estimators. The small sample performance of the estimating methods are investigated and compared with that of existing methods under various underlying distributions and censoring mechanisms. We apply the proposed model and estimating methods to a prevalent cohort study, the Canadian Study of Health and Aging (CSHA), to evaluate the survival duration according to diagnosis of subtype of dementia.
机译:提出了一个半参数加速故障时间(AFT)模型,以评估风险因素对目标人群无偏差故障时间的影响,这取决于观察到的长度偏差数据。由于偏倚的采样机制,信息量大的权限检查会使长度偏倚的数据的分析变得复杂,因此常规生存分析的技术不适用。我们提出了估计方程的估计方法,并显示了所提出估计量的渐近性质。在各种潜在的分布和检查机制下,对估计方法的小样本性能进行了研究,并将其与现有方法进行了比较。我们将提出的模型和估计方法应用于一项流行的队列研究(加拿大健康与衰老研究(CSHA)),以根据痴呆亚型的诊断评估生存期。

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