阵列天线的互耦分析——基于感应电动势法的均匀圆阵互耦校正技术

摘要

互耦效应导致阵列天线单元间耦合能量的矢量和随扫描角而变化,本文结合等效网络和感应电动势法,通过求出互阻抗求解互耦系数实现互耦误差的校正,仿真结果表明,这种技术可以正确的估计来波方向,且计算量较小。