基于克隆选择和聚类的模拟电路故障诊断技术

摘要

提出了一种克隆选择和聚类的模拟电路故障诊断技术,该技术将克隆选择算法的全局寻优和模糊C-均值的局部寻优相结合,并利用模糊C-均值的目标函数去构造克隆选择算法的亲和力函数,可以减少特征空间中样本的相互重叠所产生的诊断不确定性,利于故障模式的定位.仿真结果和分析验证证明:该方法缩短了故障的分类器收敛时间,提高了故障诊断率.