首页> 中文期刊>电工技术学报 >铜包铝高频线圈损耗的理论计算方法

铜包铝高频线圈损耗的理论计算方法

     

摘要

为了在无线电能传输系统中,减小因高频电流趋肤效应和邻近效应产生的电阻损耗,提高线圈电能传输的利用率,针对铜包铝(CCA)线圈建立了电阻计算模型,分析导线内部电磁场的变化规律,同时结合电磁场边界条件,分别得到趋肤效应和邻近效应产生的交流电阻的解析计算表达式,通过仿真计算发现,在高频趋肤效应的影响下,体积分数较小的CCA导线的电阻值较大,随着频率的增大,趋肤效应增强,不同体积分数CCA导线的电阻值将趋于一致.在外界交变磁场的影响下,当频率较低时,纯铜导线内部涡流损耗密度较高,纯铜导线电阻大于CCA导线电阻,随着频率的增大,存在临界频率使二者电阻相等;当频率继续增大时,CCA导线内部涡流损耗密度增加,其电阻值大于纯铜导线.CCA导线周围的磁场强度分布与导线及磁场施加角度θ有关,当θ值(0°~360°)不同时,磁场强度以螺旋上升方式分布.根据实测高频下CCA导线线圈的电阻曲线,对比解析理论计算电阻曲线发现,解析表达式可满足实际测试要求,对高频下CCA导线的线圈损耗分析具有一定指导意义.

著录项

  • 来源
    《电工技术学报》|2018年第14期|3160-3169|共10页
  • 作者单位

    哈尔滨理工大学工程电介质及其应用教育部重点实验室 哈尔滨 150080;

    哈尔滨理工大学电介质工程国家重点实验室培育基地 哈尔滨 150080;

    哈尔滨理工大学工程电介质及其应用教育部重点实验室 哈尔滨 150080;

    哈尔滨理工大学电介质工程国家重点实验室培育基地 哈尔滨 150080;

    哈尔滨理工大学工程电介质及其应用教育部重点实验室 哈尔滨 150080;

    上海电缆研究所有限公司 上海 200093;

    哈尔滨理工大学工程电介质及其应用教育部重点实验室 哈尔滨 150080;

    哈尔滨理工大学电介质工程国家重点实验室培育基地 哈尔滨 150080;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 电流场、电流场计算;
  • 关键词

    铜包铝导线; 趋肤效应; 邻近效应; 高频损耗; 解析计算;

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号