浅析运用MCNP模拟建立高纯锗探测器效率刻度模型

摘要

由于技术上的问题，高纯锗探测器的死层厚度对探测效率的影响问题一直以来没有得到有效解决，运用MCNP模拟建立高纯锗探测器效率刻度模型，能够很好的解决这一问题，进一步提高测量精确度，使模拟刻度误差与实际误差控制在9%以内。从这个角度来看，建立MCNP探测效率刻度模型是十分必要的，可以在实践中得以运用。通过本文分析，我们可以验证运用该刻度模型后取得的良好效果。