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一种低功耗数字集成电路自检电路设计方法

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本文提出了一种专用芯片自检集成电路设计方法,包括低功耗LDO、内部振荡器、自检激励ROM、时钟PLL等,通过相当于一个普通芯片的IO的驱动电流大小的上电小电流驱动,可完成整个专用芯片静态自检,实现专用芯片的静态快速低功耗自检.

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来源
《科技经济导刊》 |2017年第16期|7672|共2页
作者
张帆;
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作者单位

中国电子科技集团公司第二十研究所陕西西安710068;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类大规模集成电路、超大规模集成电路;
关键词
低功耗; 自检集成电路; 静态检测;

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