无偏光元件横向磁场调制塞曼原子吸收光谱分析法研究

摘要

本文报导作者提出的一种新的塞曼原子吸收光谱法，即无偏光元件模向磁场调制ＺＡＡＳ法，由研究ＺＡＡＳ仪器中偏光元件的作用机理入手，分析讨论了谱线塞曼分裂中π成分之作用，提出用数学模型方法补偿偏光元件作用的构想，和理论计算研究，系统地用实验考证和修正补偿模型工作。系统地做了２０个常见元素的补偿模型研究和分析性能测试，并做了初步的分析应用。