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许强; 金伟其; 傅连秋;
北京理工大学光电工程系,北京,100081;
东北电子技术研究所,辽宁,锦州,121000;
中国人民银行印制科学技术研究所,北京,100070;
超光谱成像; 探测系统; 图谱标定;
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