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CCD成像高精度孔径检测技术应用研究

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主要讨论的基于CCD成像的高精度孔径检测技术,描述主要涉及思路与电路设计.

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来源
《硅谷》|2008年第22期|131-131|共1页
作者
司海涛; 汪昀; 季妍;
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作者单位

宁波职业技术学院,浙江,宁波,315800;

宁波职业技术学院,浙江,宁波,315800;

浙江大学软件学院,浙江,宁波,315103;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类光学;
关键词
CCD; 孔径检测; 高精度; 桥粱监控; 在线监测;

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