集成电路兼容联合测试系统研究

摘要

本文介绍了一种针对集成电路产品进行品质检验的测试系统.该测试系统包括待测装置、联合测试(JTAG)接口,以及扫描链电路.扫描链电路包含多个扫描链,且耦接至待测装置以及联合测试接口,其中每一扫描链包括多个扫描D型触发器.电子装置耦接联合测试行动小接口,以对待测装置进行测试.该方法适用性强,结果可靠.