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中红外波伪装效果检测光学设计

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摘要

本设计可用于中红外波伪装效果的检测,它以中红外波光学成像为原理,通过分析目标辐射源和计算外形尺寸,确定镜头初始结构,校正像差,使辐射源清晰地成像在探测器上,完成检测.

著录项

来源
《科技资讯》 |2010年第28期|5-6|共2页
作者
李照美; 唐勇; 雷媛萍;
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作者单位

长春理工大学光电工程学院,长春,130022;

长春理工大学光电工程学院,长春,130022;

长春理工大学光电工程学院,长春,130022;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类摄像光学系统;
关键词
伪装效果检测; 中红外波光学成像; 目标辐射源; 探测器;

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