Two mode photon bunching effect as witness of quantum criticality in circuit QED

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• 来源
  《中国科学:物理学 力学 天文学（英文版）》 |2009年第12期|1898-1905|共8页
• 作者

  AI Qing; WANG YingDan; LONG GuiLu; SUN ChangPu;

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• 作者单位

  Department of Physics Tsinghua University Beijing 100084 China;

  Department of Physics University of Basel Klingelbergstrasse 82 4056 Basel Switzerland;

  Department of Physics Tsinghua University Beijing 100084 China;

  Tsinghua National Laboratory for Information Science and Technology Beijing 100084 China;

  Institute of Theoretical Physics Chinese Academy of Sciences Beijing 100080 China;

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• 收录信息 北京大学中文核心期刊目录(北大核心);
• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 物理学;
• 关键词

• 入库时间 2022-08-19 04:51:38