2019 IEEE EMC SIPI 国际会议——提名文章(三)

摘要

cqvip:Experimental Validation of an Integrated Circuit Transient Electromagnetic Event Sensor摘要:在瞬态测试过程中,很难确定具体的某个元件或耦合路径产生软故障的原因。部分原因是元件隐藏在产品内部深处,在瞬态测试过程中,测量内部电压或电流可能不切实际。为了解决这一问题,设计了一种紧凑型传感器,用于测量瞬态电磁事件中轨迹或引脚上的峰值过电压或欠电压。该传感器被设计成使用调频电场和磁场,将瞬态电磁事件的峰值,无线传输到被测设备外部的接收器,这样就不需要对系统进行布线或其他更改。并在集成电路(IC)中得到验证,说明该传感器可测量瞬态事件的峰值水平。通过脉冲发生器直接将瞬态电流注入传感器,验证了传感器检测的可行性。该传感器还可用于检测USB电缆上的峰值电压和振荡频率。关键词:静电放电(ESD);近场探头;传感器;测试;传输线脉冲(TLP);故障分析紧凑型传感器结构如图1所示,将走线上的电压与一系列内部阈值进行比较。根据峰值电平是否超过阈值,设置了许多内部锁存器,从而对峰值进行简单的模数(A/D)转换。锁存器驱动电流控制振荡器,其振荡频率与峰值电平相关。然后,振荡器的输出为可产生时变电场和磁场的芯片外驱动,这些电场和磁场可以由外部探针测量。