首页> 中文期刊> 《安全与电磁兼容》 >2010IEEE EMC学术研讨会——测试与量

2010IEEE EMC学术研讨会——测试与量

         

摘要

与以往用TEM小室分析显示面板的辐射发射不同,针对用于一个典型的彩色有源阵的LC-Tv显示面板,使用磁场近场测量的方法,讨论了其驱动芯片电源线上的瞬时射频(RF)电流波形.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号