CISPR 32显示模式要求对ITE辐射发射的影响

摘要

CISPR 32附录B对受试设备显示模式的规定不同于CISPR 22附录G.比较了多种类型ITE分别运行不同显示程序时的辐射发射情况,发现EUT显示模式的复杂等级最高时,其辐射发射值并不一定高于复杂等级较低模式下的辐射发射值.这进一步证明制造商可在测试中自由选择受试设备的显示模式,作为其最大发射的典型配置.同时,研发阶段应预留一定裕量,以涵盖显示模式差异带来的测试结果变化,从而在标准更换过程中避免重新测试,保证产品的合规性.