首页> 中文期刊> 《科技传播》 >不同角度探头对缺陷检测结果影响的实验分析

不同角度探头对缺陷检测结果影响的实验分析

         

摘要

以超声波端点回波法对缺陷高度测量,通过不同角度的探头,对模拟缺陷自身高度进行测量,并通过大量的实验数据对测量结果进行分析,以了解不同角度探头对检测结果的影响,并掌握端点回波的一些特点。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号