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Effect of Systematic Resonance on DBD Device

机译:系统共振对DBD设备的影响

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摘要

Abnormal phenomena that discharge performance declines with the increase in the frequency of power supply have been observed in many DBD devices. DBD systematic resonance formed by transformer leakage induction and equivalent capacitance of the dielectric layer is a key factor causing such abnormal phenomena. Therefore, the parameters of a DBD device should be optimized to avoid resonance damage and improve DBD discharge characteristics.
机译:在许多DBD设备中,已经观察到放电性能随电源频率的增加而下降的异常现象。由变压器漏感和介电层等效电容形成的DBD系统谐振是导致这种异常现象的关键因素。因此,应该优化DBD设备的参数,以避免共振损坏并改善DBD放电特性。

著录项

  • 来源
    《等离子体科学和技术(英文版)》 |2005年第5期|3030-3032|共3页
  • 作者

  • 作者单位

    Key Laboratory of Strong Electric-Field Ionization Discharge in Liaoning Province, Dalian Maritime University, Dalian 116026, China;

    Key Laboratory of Strong Electric-Field Ionization Discharge in Liaoning Province, Dalian Maritime University, Dalian 116026, China;

    Key Laboratory of Strong Electric-Field Ionization Discharge in Liaoning Province, Dalian Maritime University, Dalian 116026, China;

    Key Laboratory of Strong Electric-Field Ionization Discharge in Liaoning Province, Dalian Maritime University, Dalian 116026, China;

  • 收录信息 中国科学引文数据库(CSCD);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 等离子体物理学;地球物理学;
  • 关键词

    dielectric barrier discharge; DBD resonance; low temperature plasma;

    机译:介质阻挡放电;DBD共振;低温等离子体;
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