大统计斜率随机表面光散射的Monte Carlo数值模拟

摘要

本文在Ｋｉｒｃｈｈｏｆｆ近似的基础上，通过Ｍｏｎｔｅ Ｃａｒｌｏ数值模拟，分析了大统计斜率随机表面的单次和二次散射。数值结果证明了导体和介质表面均存在起因于多次散射的后向增强散射，入射光的偏振状态对介质表面散射特征有明显的影响。数值结果与实验报导有很好吻合。