低相干光干涉法测量光子晶体光纤延时

摘要

对相位敏感型低相干光干涉（OLCR）法延时测量系统进行了理论分析,建立了相关数学模型,搭建了基于非平衡迈克尔逊干涉仪的OLCR测量装置,以掺铒光纤放大器（EDFA）自发宽谱光作光源,对光子晶体光纤（PCF）延时（1540～1560nm）进行测量,取得0.14ps左右的测量精度。利用该系统测量光学元件参数,多采用元件末端面反射光与参考光干涉,但对光纤等器件的延时参数进行测量时,利用透射光会更加方便。