液晶自适应光学系统中控制矩阵的精确测量

摘要

为了提高自适应光学系统的校正精度,提出了一种新的通过改变测量响应矩阵时的调制波长来准确计算控制矩阵的方法.首先,测量去除平移项的前35项Zernike模式在不同调制波长下的实际光波位相调制曲线.然后,对每个调制波长,依次计算相对于原点的位相调制曲线,最终找到一个与实际光波位相调制曲线斜率相差最小的位相调制曲线.其所对应的调制波长,就是测量响应矩阵时,在相应的Zernike模式下应该施加在液晶波前校正器上的调制波长.这样,对于35个Zernike模式,便可以找到35个调制波长.最后,对每个Zernike模式,即响应矩阵的每一列对相应的调制波长进行归一化,最终得到准确的控制矩阵.实验表明,采用此方法液晶自适应光学系统的校正精度由73%提高到了95%以上,校正误差为常规方法的1/5,且此比例与系统的最大畸变补偿位相的大小无关.结果表明此方法极大地提高了液晶自适应光学系统的校正精度.