单片机在多参数综合测控系统中的应用

摘要

本文叙述了一种多参数综合测控方法，即应用ATmega128单片机通过传感器技术，对植物的叶层温湿度、冠层温度、植物生长环境的土壤温度、土壤水分、风速、光照度以及大气和叶层的二氧化碳浓度进行测量，并对测量的数据进行简单的处理和分析。