扩展X射线吸收精细结构谱仪的探测系统

摘要

本文详细描述了一个扩展X射线吸收精细结构(EXAFS)谱仪探测系统。用能量约为10keV的X射线测量了该探测系统的坪特性、吸收曲线和线性。并在此EXAFS谱仪上测量了镍样品K吸收边附近的振荡现象,它比前探测器用正比计数管、后探测器用NaI(TI)闪烁计数器测量的结果更精确。