次临界系统中瞬发中子衰减常数与反应性的关系

摘要

一、引言中子增殖系统的物理参数测量中,经常通过瞬发中子衰减常数α的测定,来得到系统的反应性ρ或中子有效增殖因子k。瞬发中子衰减常数可以用多种方法测定,如脉冲中子法,频域和时域的相关分析法等。α对系统的次临界度或反应性很敏感,即使系统的次临界度很深,α仍然可以以很高的准确度测得。可是两者之间,特别当次临界度较深时,没有一个令人满意的关系式。本文将就这个问题作一探讨。