电子束真实发射度测量原理

摘要

描述了一个新的发射度测量方法.它包括有磁扫描系统,厚窄缝,荧光屏以及CCD图像处理系统.这个方法能够测量出电子束的真实发射度图形.文章设计了磁扫描系统,估计了束流通过磁扫描系统引起的发射度增长,还讨论了为阻挡高能电子穿透,窄缝必须选择的厚度.电子束发射度的测量对于自由电子激光以及其它对束流品质要求较高的加速器装置都是很重要的.