HL-1M装置电子回旋加热过程中的超热电子测量

摘要

在HL-1M托卡马克上进行的电子回旋共振加热实验表明,在低等离子体密度加热过程中,产生大量的超热电子.由Si(i)和碘化汞(HgI2)半导体探测器阵列测量到的软X射线和中能(15～150keV)X射线能谱,得到超热电子的温度在30～60keV范围内.中能X射线辐射强度测量结果证实,等离子体对电子回旋波的吸收是定域性的.在超热电子对MHD的相互作用中,主要的m=2/1模没有增强或抑制现象.