国产X射线衍射仪低温测试的温度准确性验证

摘要

采用冷压陶瓷技术开发具有一级相变、居里温度(TC)低于室温的(Ba0.91La0.09)Ti1-0.09/4O3 (BL9T)单相陶瓷.该陶瓷用于国产X射线衍射仪低温粉末XRD测量时的温度准确性验证.考虑晶体结构随温度的弛豫后,由介电温谱和变温拉曼光谱技术综合确定的TC最高为-62℃,以确保BL9T在TC以上始终处于立方结构.以BL9T的单胞体积(V0)与温度的线性膨胀关系为依据,验证了在低于室温进行粉末XRD测量时变温样品室具有较高的温度准确性.在-30℃到-60℃温度范围内,变温样品室内热电偶的监控温度(To)与陶瓷粉末样品表面的实际温度(Ta)的偏差非常小(＜2℃).