热老化对空心电抗器匝间绝缘材料性能影响

摘要

在280,300,320℃下对包绕电磁线的聚酰亚胺薄膜分别进行热老化试验,研究了热老化对聚酰亚胺薄膜力学性能、微观结构、热学及电学性能的影响。结果表明:热老化使聚酰亚胺薄膜结构遭到破坏,其拉伸强度显著下降,且热老化温度越高,拉伸强度下降幅度越大;计算得到热老化前后聚酰亚胺薄膜的反应活化能分别为151.88kJ/mol和139.92kJ/mol;热老化后,聚酰亚胺薄膜包绕电磁线的绝缘击穿电压下降。