测定首饰中金属覆盖层厚度的不确定度评定-X射线荧光光谱法

摘要

在首饰行业中,当金属覆盖层与基体材料不同时,使用X射线荧光光谱法(本文简称XRF)[1]可以对多层金属覆盖层进行材料分析并测试其覆盖层的线性厚度.本文对测试首饰中金属覆盖层的厚度过程进行不确定度评定,分析不确定度来源,对各个分量进行合成和扩展,最终给出评定的结果.