基于PXI协议的ATE测试平台的软件架构设计

摘要

随着集成电路复杂度的越来越高,集成电路测试难度也相应增加,部分芯片的制造成本大部分用于芯片测试,芯片成本是芯片生产制造中重要的考量标准。如何实现高性能、低成本的测试需求是一个难题,而自动测试设备结合 PXI 系统大大降低了芯片测试成本的高性能,让这一难题得以解决。与此同时,还可以实现微波半导体器件多参数测试过程中的精确测量控制、实时状态感知、自动分析决策以及协同控制执行等功能。文章通过对 PXI 协议进行阐述,列举大量 ATE 测试平台关系进行分析,促进国内半导体产业的发展,从而验证半导体产业对整个微波射频芯片市场的自动化测试领域有巨大的示范和推动作用。