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浅谈逻辑分析仪

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摘要

本文主要介绍数字系统的两个方面,即时域和数域以及对它们进行测试所采用的方法(定时分析和状态分析)然后介绍逻辑分析仪是如何解决数字电路故障查寻的问题.

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来源
《计量与测试技术》|2006年第3期|17,20|共2页
作者
刘新;
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作者单位

航天凯天科技责任有限公司,贵州,遵义,563317;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类计量学;
关键词
逻辑分析仪; 定时分析; 状态分析;

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