GE Hispeed dual双排螺旋CT伪影故障分析与排除

摘要

@@ 1 故障现象rn我院于2008年1月引进一台美国GE Hispeed dual 双排螺旋CT机,接诊20例1个月～4周岁的小儿头颅外伤患者做颅脑CT扫描,发现右基底节区和右颞顶叶2～3个层面出现一斑点状或同心圆状高密度影,且在其前外侧方可见斑点状或小片状低密度影.并在当天及一周后不同时间内复查.发现其中2例当日在外院复查颅脑CT未见异常,12例一周后来我院复查此影无变化,2例复查颅脑显示正常.3例未随访.