偏光片表面缺陷智能多分选控制技术

摘要

设计了一个分选矩阵并给出了对应的监督机制,将缺陷信号行向量和该分选矩阵相乘,直接得出分选结果,解决了偏光片缺陷检测完毕后细化缺陷分类的问题。