高速数模转换芯片动态特性高精度量产测试技术研究

摘要

cqvip:由于生产环境与设备精度的限制,高速数模转换器芯片(DAC)动态特性测试所需的相干采样条件无法精确满足,测试数据的直流偏置误差无法避免,数模转换器位数越高,同等测试时间内误差越大。鉴于此,提出了一种测试数模转换器动态特性的新方法,该方法可以在不增加测试时间与测试成本的情况下,将非相干采样数据转换为等效相干采样数据,并去除数据中的直流偏置误差,测试结果的总体误差能降低到1%以下,远优于当前传统的测试方法。此方法还可用于多载波信号的动态特性测试,并可集成于自动化测试平台,适用于大规模量产。