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基于PLC的芯片测试分选机设计

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利用三菱PLC对芯片测试分选机进行控制,介绍了测试分选机的主要构成部分、电气控制及软件设计.给出了测试分选机的工艺流程图、整个系统控制框图和程序结构图等.

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来源
《机电信息》|2015年第15期|134-135|共2页
作者
徐银森; 吴华;
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作者单位

南通华达微电子集团有限公司,江苏南通 226000;

南通华达微电子集团有限公司,江苏南通 226000;

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正文语种 chi
中图分类
关键词
PLC; 芯片; 测试分选机;

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