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面向CPS产品参数设计的计算机辅助公差分析与优化

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摘要

结合计算机辅助公差设计分析技术,以CPS某型号产品为例对开距参数理论值进行公差分析,得到了开距的仿真计算合格率和尺寸贡献度.通过预测和控制制造偏差、优化设计来提高产品尺寸质量和降低产品生产成本与开发周期.

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来源
《低压电器》 |2014年第20期|10-15|共6页
作者
张泓;
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作者单位

上海电科电器科技有限公司,上海200063;

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正文语种 chi
中图分类各种开关;
关键词
计算机辅助公差分析; 蒙特卡罗法; 开距; CPS;

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