智能型万能式断路器射频辐射性能的改进设计

摘要

智能控制器由于其内部包含的电子元件多且结构紧凑,易产生电磁干扰问题。介绍了智能控制器的工作原理,研究了其在射频辐射试验中出现的问题,并提出了相应的设计与改进方案。对某智能控制器进行了EMC射频辐射骚扰试验,并将EMC设计后的试验数据与整改前进行了对比。试验结果表明,经过EMC改进设计后,该智能控制器样品的射频辐射性能得到明显改善,并达到GB 14048.2—2008要求,通过了检测。