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X射线粉末衍射法分析石墨插层化合物的结构

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摘要

根据X射线粉末衍射谱图,对经不同方式处理的石墨的结构进行分析,用对比方法比较了它们衍射谱图中衍射峰位置和强度的差异,分析其原因,进而判断它们的结构特征.结果表明可以利用适当的方法使一些非碳反应物插入石墨层间,从而制成石墨层间化合物(GIC),改善其性能,扩大其应用领域.

著录项

来源
《信阳师范学院学报：自然科学版》|2004年第2期|183-185|共3页
作者
张秀兰; 栗印环; 余国忠;
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作者单位

信阳师范学院化学化工学院;

信阳师范学院城市与环境科学系;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类物理化学（理论化学）、化学物理学;
关键词
X射线衍射; 石墨层间化合物(GIC); 石墨;
入库时间 2022-08-21 02:59:38

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