嵌入式C代码释放后重用缺陷检测

摘要

C代码中的释放后重用缺陷严重影响着嵌入式系统的鲁棒性与可靠性。针对此类漏洞的现有检测方案多针对于计算机系统及应用程序,无法为复杂多样的嵌入式程序提供支持。静态代码分析可以在没有代码运行环境的前提下进行代码缺陷检测。因此,基于LLVM编译框架设计了静态污点追踪方案,实现了针对释放后重用缺陷代码特征的自动化检测。实验结果证明了该方法能够快速、准确地检测C代码释放后重用缺陷,并且能够在大规模的嵌入式C代码项目中应用。