Influence of Annealing Temperature on the Properties of TiO2 Films Annealed by ex situ and in situ TEM

著录项

• 来源
  《武汉理工大学学报：材料科学英文版》 |2012年第006期|P.1014-1019|共6页
• 作者

  PENG Tangchao; XIAO Xiangheng; REN Feng; XU Jinxia; ZHOU Xiaodong; MEI Fci; JIANG Changzhong;

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• 作者单位

  of;

  Physics;

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  Technology,;

  Wuhan;

  University,;

  Wuhan;

  430072,-China;

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  Electro-Optics-Wuhan;

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  Optoelectronics,;

  Wuhan;

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  Hubei;

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  Technology,;

  Wuhan;

  430068,;

  China;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 CHI
• 中图分类 特种结构材料;
• 关键词

  TiO2薄膜; 退火温度; 迁地保护; TEM; 直流反应磁控溅射; 透射电子显微镜; 二氧化钛膜; 表面粗糙度;

  机译：TiO2薄膜;退火温度;迁地保护;TEM;直流反应磁控溅射;透射电子显微镜;二氧化钛膜;表面粗糙度;