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北京谱仪-ⅡK_S^0、Λ粒子衰变顶点位置的确定

         

摘要

阐述了北京谱仪 (BES)中 K0S、Λ衰变顶点 (次级顶点 )寻找、径迹参数确定及误差矩阵修正程序的原理 .采用 BES- 的 d E/ dx和多重库仑散射修正 ,并考虑谱仪内磁场并非常数而是位置的函数等因素 ,对用于BES- 的寻找次级顶点的程序进行了修改 ,使之能应用于 BES- 的数据处理 .进而 ,通过对北京谱仪 J/ψ衰变道的蒙特卡罗模拟和数据分析结果 。

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