粒子成像测速法中曝光次数与干涉条纹位置的关系

摘要

分析了ＰＩＶ采样底片多次曝光时粒子衍射调制作用对干涉条纹位置的影响，推导出条纹偏移量与曝光次数和粒子相对位移量的关系，分析结果得到了实验的证明。