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刘翠翠; 邱栋; 李必信;
东南大学计算机科学与工程学院;
WS—CDL; 控制流图; 测试路径; 排序;
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机译:使用检查电路的测试生成框架及其在路径延迟测试生成中的应用
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机译:过渡故障和过渡路径延迟故障:测试生成,路径选择以及功能性侧面测试的内置生成。
机译:基于混合负选择算法和遗传算法的最优路径测试数据生成
机译:Ws-CDL +:用于Web服务协作的扩展Ws-CDL执行引擎
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机译:排序信息生成单元,排序信息生成系统,排序信息生成方法和排序信息生成程序
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