种植密度对玉米冠层高光谱特征的响应研究

摘要

为了探讨玉米种植密度与叶面积指数及冠层高光谱数据的定量关系,为遥感快速无损准确监测玉米种植密度提供理论依据,本研究选用ZD958、KWS3564和XY335 3个品种,6万、12万和18万株/hm^23个密度下获取玉米冠层高光谱数据及叶面积指数,分析种植密度与叶面积指数定量模型,并进行模型检验。结果显示:1)在6万株/hm^2密度下,波段范围350-532、563-704和742-1000 nm处玉米叶面积指数与光谱反射率具有极显著的相关,RVI[497,935]与LAI的相关性最好,R^2为0.67;在12万株/hm^2密度下,波段范围720-1158 nm处玉米叶面积指数与光谱反射率具有极显著的相关性,DVI[720,936]与LAI的相关性最好,R^2为0.49;在18万株/hm^2密度下,波段范围415-672、678-1750 nm处玉米叶面积指数与光谱反射率具有极显著的相关性,DVI[551,724]与LAI的相关性最好,R^2为0.65。2)经过模型精度检验推荐RVI[497,935]构建6万株/hm^2密度下的LAI估算模型,DVI[720,936]、DVI[551,724]构建12万株/hm^2密度下与18万株/hm^2密度下的LAI估算模型。结论:春玉米不同密度下叶面积指数与高光谱间有高的相关性,建立的提取模型具有高的精度,可对春玉米叶面积指数进行遥感监测。