基于改进YOLOv4的电子元器件表面缺陷检测技术研究

摘要

采用人工检测工业生产中电子元器件表面缺陷,检测精度和速度都难以满足实际需求.为此提出一种基于改进YOLOv4的电子元器件表面缺陷检测方法,以期为自动化检测提供支撑.通过对网络结构调整,大幅减少网络结构复杂程度;通过设计先验框尺寸优化方法,加快模型训练时的收敛速度;通过设计样本增强方法,对训练数据进行扩充,使网络模型的检测精度有一定提升;在相同实验条件下,使用改进后的YOLOv4模型,在保证精度的前提下可极大缩减计算量,提升网络模型的训练与检测速度.